воскресенье, 3 октября 2010 г.

Микроскоп отраженного света XJL-101А металлографический: Микроскопы металлографические

Микроскоп отраженного света XJL-101А предназначен для исследования поверхности непрозрачных объектов.

Микроскоп XJL-101А имеет большой предметный столик с возможностью перемещения по осям X и Y, вертикальное освещение, план-ахроматические объективы и широкопольные окуляры. Обеспечивает четкое, высококонтрастное изображение и комплектуется поляризационным устройством.

Микроскоп XJL-101А является идеальным для исследовательских работ в области металлографии, минералогии, прецизионного конструирования, электротехники и т.д. Применим для научных исследований и лабораторных работ в учебных заведениях.

Технические харктеристики микроскопа XJL-101А

Штатив

Эргономическ! ий дизайн с удобно низким размещением коаксиального механизма фокусировки. Размер 203х203мм

Увеличение

50х-1600х

Насадка

Компенсационная тринокулярная насадка с анализатором

Окуляры

WF 10x с диаметром поля зрения 18 мм
WF 16x с диаметром поля зрения 11 мм (под заказ)
10х с микрометрической линейкой (под заказ)

Объективы

Планахроматические 5х, 10х, 20х, 40х, 80х и 50х, 100х под заказ

Револьверная головка

5-и позиционная, шарикоподшипнико! вая с фиксатором для гарантированного центрирования

Столик

Размер 203х203 мм

Освещение

Вертикальный осветитель  галогенная лампа 6В 20Вт с поляризатором

Уточнить стоимость и купить Микроскоп отраженного света XJL-101А металлографический -->

Другие товары в разделе: Микроскопы металлографические

Источник информации: ООО «Компания «Химснабжение» (www.chimsnab.com.ua)